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規格・テクニカルリポート類

Structural investigation of B(sup +) ion implantation induced amorphization in polycrystalline Ni thin films ANL/MSD/CP-90475 DE96 012671 CONF-96086015

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Structural investigation of B(sup +) ion implantation induced amorphization in polycrystalline Ni thin films

ANL/MSD/CP-90475 DE96 012671 CONF-96086015

国立国会図書館請求記号
LS-DE96/012671
国立国会図書館書誌ID
000005857442
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Liu, P. Cほか
出版者
-
出版年
1996
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
4 p. (1 microfiche)
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Liu, P. C
Zaluzec, N. J
Okamoto, P. R
Meshii, M
出版年月日等
1996
出版年(W3CDTF)
1996
数量
4 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : ANL/MSD/CP-90475
テクニカルリポート番号 : DE96 012671
テクニカルリポート番号 : CONF-96086015
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE96/012671