Scaling of the electroweak interface tension at finite temperature

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Scaling of the electroweak interface tension at finite temperature
• 著者・編者: Hein, J; Heitger, J
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 11 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : DESY-96-066; テクニカルリポート番号 : DE97 701126; テクニカルリポート番号 : MS-TPI-96-7; テクニカルリポート番号 : HEP-LAT-9605009
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE97/701126
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005863108; http://id.ndl.go.jp/bib/000005863108
• 整理区分コード: 291