Interaction of cavities and dislocations in semiconductors

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Interaction of cavities and dislocations in semiconductors
• 著者・編者: Follstaedt, D. M; Myers, S. M; Lee, S. R; Reno, J. L; Dawson, R. L
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 8 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-96-1714C; テクニカルリポート番号 : DE97 001850; テクニカルリポート番号 : CONF-96120211
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE97/001850
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005865773; http://id.ndl.go.jp/bib/000005865773
• 整理区分コード: 291