Atomic-scale characterization of hydrogenated amorphous-silicon films and devices. Annual subcontract report, 14 February 1995--14 April 1996. PROGRESS REPT NREL/SR-520-22565 DE97 000210

Atomic-scale characterization of hydrogenated amorphous-silicon films and devices. Annual subcontract report, 14 February 1995--14 April 1996. PROGRESS REPT

NREL/SR-520-22565 DE97 000210

国立国会図書館請求記号: LS-DE97/000210
国立国会図書館書誌ID: 000005868787

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: Gallagher, Aほか

出版者: -

出版年: 1997

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: 26 p. (1 microfiche)

NDC: -

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マイクロ

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: Atomic-scale characterization of hydrogenated amorphous-silicon films and devices. Annual subcontract report, 14 February 1995--14 April 1996. PROGRESS REPT
著者・編者: Gallagher, A
Barzen, S
Childs, M
Laracuente, A
出版年月日等: 1997
出版年（W3CDTF）: 1997
数量: 26 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : NREL/SR-520-22565
テクニカルリポート番号 : DE97 000210
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE97/000210
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005868787
http://id.ndl.go.jp/bib/000005868787
整理区分コード: 291