規格・テクニカルリポート類

Quantification of interfacial segregation by atom probe field ion microscopy CONF-970834-2 DE97 004717

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Quantification of interfacial segregation by atom probe field ion microscopy

CONF-970834-2 DE97 004717

国立国会図書館請求記号
LS-DE97/004717
国立国会図書館書誌ID
000005870585
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Miller, M. K
出版者
-
出版年
1997
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
6 p. (1 microfiche)
NDC
-
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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Miller, M. K
出版年月日等
1997
出版年(W3CDTF)
1997
数量
6 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : CONF-970834-2
テクニカルリポート番号 : DE97 004717
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE97/004717