規格・テクニカルリポート類

Measurement of diffraction gratings with a long trace profiler with applications for synchrotron beamline gratings LSBL-394 DE97 054547 CONF-9706157 LBNL-40471

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Measurement of diffraction gratings with a long trace profiler with applications for synchrotron beamline gratings

LSBL-394 DE97 054547 CONF-9706157 LBNL-40471

国立国会図書館請求記号
LS-DE97/054547
国立国会図書館書誌ID
000005876913
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Irick, S. Cほか
出版者
-
出版年
1997
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
7 p. (1 microfiche)
NDC
-
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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
タイトル
Measurement of diffraction gratings with a long trace profiler with applications for synchrotron beamline gratings
著者・編者
Irick, S. C
McKinney, W. R
出版年月日等
1997
出版年（W3CDTF）
1997
数量
7 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : LSBL-394
テクニカルリポート番号 : DE97 054547
テクニカルリポート番号 : CONF-9706157
テクニカルリポート番号 : LBNL-40471
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE97/054547