Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high-resolution Z-contrast STEM

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high-resolution Z-contrast STEM
• 著者・編者: Xin, Y; Pennycook, S. J; Browning, N. D; Sivananthan, S; Nellist, P. D
• 出版年月日等: 1997
• 出版年（W3CDTF）: 1997
• 数量: 6 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : ORNL/CP-95879; テクニカルリポート番号 : DE98 001847; テクニカルリポート番号 : CONF-971201
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE98/001847
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005877807; http://id.ndl.go.jp/bib/000005877807
• 整理区分コード: 291