Investigation of epitaxial silicon layers as a material for radiation hardened silicon detectors

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Investigation of epitaxial silicon layers as a material for radiation hardened silicon detectors
• 著者・編者: Li, Z; Eremin, V; Ilyashenko, I; Ivanov, A
• 出版年月日等: 1997
• 出版年（W3CDTF）: 1997
• 数量: 5 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : BNL-64973; テクニカルリポート番号 : DE98 001637; テクニカルリポート番号 : CONF-971147
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE98/001637
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005877886; http://id.ndl.go.jp/bib/000005877886
• 整理区分コード: 291