High resolution I(sub DDQ) characterization and testing -- Practical issues

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: High resolution I(sub DDQ) characterization and testing -- Practical issues
• 著者・編者: Righter, A. W; Soden, J. M; Beegle, R. W
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 11 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-96-2462C; テクニカルリポート番号 : DE97 000741; テクニカルリポート番号 : CONF-96102081
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE97/000741
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005878116; http://id.ndl.go.jp/bib/000005878116
• 整理区分コード: 291