In situ ion beam research in Argonne's intermediate voltage electron microscope

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: In situ ion beam research in Argonne's intermediate voltage electron microscope
• 著者・編者: Allen, C. W; Ryan, E. A
• 出版年月日等: 1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 数量: 13 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/MSD/CP-90319; テクニカルリポート番号 : DE97 004098; テクニカルリポート番号 : CONF-96120296
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE97/004098
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005881665; http://id.ndl.go.jp/bib/000005881665
• 整理区分コード: 291