Effects of microstructural heterogeneity on BGA reliability

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Effects of microstructural heterogeneity on BGA reliability
• 著者・編者: Neilsen, M. K; Burchett, S. N; Fang, H. E; Vianco, P. T
• 出版年月日等: 1998
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 8 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND981649C; テクニカルリポート番号 : DE98 003973; テクニカルリポート番号 : CONF980819
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE98/003973
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005885066; http://id.ndl.go.jp/bib/000005885066
• 整理区分コード: 291