Correlation of intermediate ion energy induced extended defect continuity to enhanced pinning potential in Tl-2212 films

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Correlation of intermediate ion energy induced extended defect continuity to enhanced pinning potential in Tl-2212 films
• 著者・編者: Newcomer, P. P; Venturini, E. L; Doyle, B. L; Brice, D. K; Schoene, H
• 出版年月日等: 1998
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 8 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND981418C; テクニカルリポート番号 : DE98 003554
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE98/003554
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005909057; http://id.ndl.go.jp/bib/000005909057
• 整理区分コード: 291