Total ionizing dose effects on MOS and bipolar devices in the natural space radiation environment

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: Total ionizing dose effects on MOS and bipolar devices in the natural space radiation environment
• 著者・編者: Fleetwood, D. M
• 出版年月日等: 1998
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 8 p. (1 microfiche)
• 資料種別（注記）: [microform]
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND982040C; テクニカルリポート番号 : DE99 000996
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DE99/000996
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000005966689; http://id.ndl.go.jp/bib/000005966689
• 整理区分コード: 291