SBIRS high IR sensor on-orbit bakeout testing

• 資料種別: 規格・テクニカルリポート類
• タイトル: SBIRS high IR sensor on-orbit bakeout testing
• 著者・編者: Abell, G; Lafferty, R; Williams, R; Price, G; Krylo, R; Jansen, J; Kerwin, F; Rysanek, J; Platt, R; Orlando, H
• 出版年月日等: 2001
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: 11 p
• 並列タイトル等: AIAA thermophysics conference. 35th. Anaheim, Calif. Jun. 2001
• リポート番号: テクニカルリポート番号 : AIAA-2001-2955
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M-AIAA-2001-2955
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006095717; http://id.ndl.go.jp/bib/000006095717
• 整理区分コード: 291