Large scale integration digital testing : annotated bibliography, 1969-1978 / Thomas F. Leedy ; Electron Devices Division, Center for Electronics and Electrical Engineering, National Engineering Laboratory, National Bureau of Standards. (NBS technical note ; 1102)

Large scale integration digital testing : annotated bibliography, 1969-1978 / Thomas F. Leedy ; Electron Devices Division, Center for Electronics and Electrical Engineering, National Engineering Laboratory, National Bureau of Standards.

(NBS technical note ; 1102)

国立国会図書館請求記号: ND1-22
国立国会図書館書誌ID: 000006253842

資料種別: 図書

著者: Leedy, T. F.ほか

出版者: U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards : for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off.

出版年: 1979.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: iii, 40 p. ; 27 cm.

NDC: -

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
タイトル: Large scale integration digital testing : annotated bibliography, 1969-1978 / Thomas F. Leedy ; Electron Devices Division, Center for Electronics and Electrical Engineering, National Engineering Laboratory, National Bureau of Standards.
シリーズタイトル: NBS technical note ; 1102
著者標目: Leedy, T. F.
Center for Electronics and Electrical Engineering (U.S.) . Electron Devices Division.
出版事項: Washington : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards : for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off.
出版年月日等: 1979.
出版年（W3CDTF）: 1979
数量: iii, 40 p. ; 27 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Transistors -- Testing.
NDLC: ND1
ND351
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: ND1-22
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006253842
http://id.ndl.go.jp/bib/000006253842
整理区分コード: 211