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Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] / edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen. (NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; v. 63)

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Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] / edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.

(NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; v. 63)

国立国会図書館請求記号
MC145-156
国立国会図書館書誌ID
000006282176
資料種別
図書
著者
NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods (1979 : Durham, England)ほか
出版者
Plenum Press
出版年
c1980.
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
xxvi, 589 p. : ill. ; 26 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記：

"Published in cooperation with NATO Scientific Affairs Division."

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書誌情報

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紙

資料種別
図書
ISBN
0306406284
タイトル
Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] / edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen.
シリーズタイトル
NATO advanced study institutes series : Series B, Physics ; v. 63
著者標目
NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods (1979 : Durham, England)
Tanner, B. K. (Brian Keith)
Bowen, D. Keith (David Keith) , 1940-
出版事項
New York, N.Y. : Plenum Press
出版年月日等
c1980.
出版年（W3CDTF）
1980
数量
xxvi, 589 p. : ill. ; 26 cm.
出版地（国名コード）
US