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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- 著者標目
- 出版年月日等
- 1979-1980.
- 出版年(W3CDTF)
- 1979
- 数量
- 2 v. ; ill. ; 28 cm.
- 並列タイトル等
- IEEE ... Semiconductor Test Conference 1979IEEE ... Test Conference 1980
- 出版地(国名コード)
- US
- 本文の言語コード
- eng
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