Proceedings / International Test Conference.

• 資料種別: 図書
• ISSN: 1089-3539
• タイトル: Proceedings / International Test Conference.
• 著者標目: IEEE Computer Society. Test Technology Committee.; Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.; International Test Conference.
• 出版事項: Silver Spring, Md. : IEEE Computer Society Press
• 出版年月日等: c1983-
• 出版年（W3CDTF）: 1983
• 数量: v. : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: IEEE ... Test Conference 1983-1986; IEEE International Test Conference 1987-
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Computer storage devices -- Congresses.; Integrated circuits -- Testing -- Congresses.; Semiconductor storage devices -- Testing -- Congresses.
• DDC: 004
• NDLC: M154
• 一般注記: Some conferences also have distinctive titles.; Published: Altoona, PA : International Test Conference, <1995->
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M154-229
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006410208; http://id.ndl.go.jp/bib/000006410208
• 整理区分コード: 211