本文に飛ぶ
図書

Analytic analysis of ellipsometric errors / Deane Chandler-Horowitz (Semiconductor measurement technology) (NBS special publication ; 400-78)

図書を表すアイコン

Analytic analysis of ellipsometric errors / Deane Chandler-Horowitz

(Semiconductor measurement technology) (NBS special publication ; 400-78)

国立国会図書館請求記号
YCA-C 13.10:400-78
国立国会図書館書誌ID
000006536582
資料種別
図書
著者
Chandler-Horowitz, Deaneほか
出版者
-
出版年
1986
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Distributed to depository libraries in microfiche"Issued May 1986."Physical description for original version: iii, 32 p. : 28 cm

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

マイクロ

資料種別
図書
出版年(W3CDTF)
1986
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng
資料種別(注記)
[microform]