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High-temperature crack-arrest tests using 152-mm-thick SEN wide plates of low-upper-shelf base material : tests WP-2.2 and WP-2.6 / prepared by D.J. Naus ... [et al.]

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High-temperature crack-arrest tests using 152-mm-thick SEN wide plates of low-upper-shelf base material : tests WP-2.2 and WP-2.6 / prepared by D.J. Naus ... [et al.]

国立国会図書館請求記号
YCA-Y 3.N 88:25/5450
国立国会図書館書誌ID
000006590239
資料種別
図書
著者
Naus, Dほか
出版者
-
出版年
1990
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

"Oak Ridge National Laboratory."Distributed to depository libraries in microficheNo longer available for sale by the Supt. of Docs...

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書誌情報

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マイクロ

資料種別
図書
出版年(W3CDTF)
1990
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
並列タイトル等
High temperature crack arrest tests using ...
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng
資料種別(注記)
[microform]