Metrology, measurement assurance program guidelines [microform] / NASA Metrology and Calibration Working Group ; W.G. Eicke, J.P. Riley, K.J. Riley (NASA reference publication ; 1364)

Metrology, measurement assurance program guidelines [microform] / NASA Metrology and Calibration Working Group ; W.G. Eicke, J.P. Riley, K.J. Riley

(NASA reference publication ; 1364)

国立国会図書館請求記号: YCA-NAS 1.61:1364
国立国会図書館書誌ID: 000006605245

資料種別: 図書

著者: Eicke, W. Gほか

出版者: -

出版年: 1995

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: microfiche ; 11 × 15 cm

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Distributed to depository libraries in microficheShipping list no.: 95-0615-M"March 1995."...

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 図書
タイトル: Metrology, measurement assurance program guidelines [microform] / NASA Metrology and Calibration Working Group ; W.G. Eicke, J.P. Riley, K.J. Riley
シリーズタイトル: NASA reference publication ; 1364
著者標目: Eicke, W. G
Riley, J. P
Riley, K. J
NASA Metrology and Calibration Workshop
出版年（W3CDTF）: 1995
数量: microfiche
大きさ: 11 × 15 cm
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
資料種別（注記）: [microform]
件名標目: Mensuration
Calibration
Calibrating
Consistency
Handbooks
Metrology
Quality control
一般注記: Distributed to depository libraries in microfiche
Shipping list no.: 95-0615-M
"March 1995."
Physical description for original version: vii, 91 p. : 28 cm
書誌注記: Includes bibliographical references (p. 77-78)
原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: [Washington, D.C.?] ; [Springfield, Va. : NASA : National Technical Information Service, distributor, 1995]
SUPTDOC番号: NAS 1.61: 1364
GPO管理番号: 0830-H-11 (MF)
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YCA-NAS 1.61:1364
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006605245
http://id.ndl.go.jp/bib/000006605245
OCLC番号: 35252130
https://www.worldcat.org/oclc/35252130
整理区分コード: 281