A limited in-flight evaluation of the constant current loop strain measurement method [microform] / Candida D. Olney and Joseph V. Collura (NASA technical memorandum ; 104331)

A limited in-flight evaluation of the constant current loop strain measurement method [microform] / Candida D. Olney and Joseph V. Collura

(NASA technical memorandum ; 104331)

国立国会図書館請求記号: YCA-NAS 1.15:104331
国立国会図書館書誌ID: 000006618620

資料種別: 図書

著者: Olney, Candida Dほか

出版者: -

出版年: 1997

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: microfiche ; 11 × 15 cm

NDC: -

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一般注記：: Shipping list no.: 98-0799-MPhysical description for original version: 1 v

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マイクロ

資料種別: 図書
タイトル: A limited in-flight evaluation of the constant current loop strain measurement method [microform] / Candida D. Olney and Joseph V. Collura
シリーズタイトル: NASA technical memorandum ; 104331
著者標目: Olney, Candida D
Collura, Joseph V
Dryden Flight Research Facility
出版年（W3CDTF）: 1997
数量: microfiche
大きさ: 11 × 15 cm
並列タイトル等: Limited in flight evaluation of the constant current loop strain measurement method
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
資料種別（注記）: [microform]
件名標目: Strain measurement
Strain gages
Wheatstone bridges
Electrical measurement
Electrical resistance
一般注記: Shipping list no.: 98-0799-M
Physical description for original version: 1 v
原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Edwards, Calif. ; [Springfield, Va. : National Aeronautics and Space Administration, Dryden Flight Research Center : National Technical Information Service, distributor], 1997
SUPTDOC番号: NAS 1.15: 104331
GPO管理番号: 0830-D (MF)
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YCA-NAS 1.15:104331
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006618620
http://id.ndl.go.jp/bib/000006618620
OCLC番号: 40471913
https://www.worldcat.org/oclc/40471913
整理区分コード: 281