Thin film reference materials development [microform] : final report for CRADA CN-1364 / Barbara J. Belzer ... [et al.]

• 資料種別: 図書
• タイトル: Thin film reference materials development [microform] : final report for CRADA CN-1364 / Barbara J. Belzer ... [et al.]
• シリーズタイトル: Semiconductor measurement technology; NIST special publication ; 400-100
• 著者標目: Belzer, Barbara J; National Institute of Standards and Technology (U.S.)
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: microfiche
• 大きさ: 11 × 15 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 件名標目: Silica -- United States; Thin-film circuits
• 一般注記: "April 1998."; Shipping list no.: 99-0049-M; Physical description for original version: iv, 38 p. : 28 cm
• 書誌注記: Includes bibliographical references (p. 26-27)
• 原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD ; Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology : For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1998; SUPTDOC番号: C 13.10: 400-100; GPO管理番号: 0247 (MF)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YCA-C 13.10:400-100
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006621601; http://id.ndl.go.jp/bib/000006621601
• OCLC番号: 41034069; https://www.worldcat.org/oclc/41034069
• 整理区分コード: 281