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Destructive evaluation of a xenon hollow cathode after a 28,000 hour life test [microform] / Timothy R. Sarver-Verhey ([NASA contractor report] ; NASA/CR-1998-208678)

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Destructive evaluation of a xenon hollow cathode after a 28,000 hour life test [microform] / Timothy R. Sarver-Verhey

([NASA contractor report] ; NASA/CR-1998-208678)

国立国会図書館請求記号
YCA-NAS 1.26:208678
国立国会図書館書誌ID
000006625262
資料種別
図書
著者
Sarver-Verhey, Timothy Rほか
出版者
-
出版年
1998
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Shipping list no.: 99-0474-MPhysical description for original version: 1 v

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書誌情報

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マイクロ

資料種別
図書
出版年(W3CDTF)
1998
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng