Contamination effects on EUV optics [microform] / J. Tveekrem

• 資料種別: 図書
• タイトル: Contamination effects on EUV optics [microform] / J. Tveekrem
• シリーズタイトル: NASA/TP ; 1999-209264
• タイトル標目: NASA technical paper ; 209264
• 著者標目: Tveekrem, J; George C. Marshall Space Flight Center
• 出版年（W3CDTF）: 1999
• 数量: microfiche
• 大きさ: 11 × 15 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 件名標目: Contamination; Extreme ultraviolet radiation; Optical properties; Physical optics; Aerospace environments; Design analysis
• 一般注記: Shipping list no.: 2000-0278-M; Physical description for original version: 1 v
• 原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: [Marshall Space Flight Center], Ala. ; [Springfield, Va. : National Aeronautics and Space Administration, Marshall Space Flight Center : National Technical Information Service, distributor, 1999]; SUPTDOC番号: NAS 1.60: 209264; GPO管理番号: 0830-H-15 (MF)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YCA-NAS 1.60:209264
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006630209; http://id.ndl.go.jp/bib/000006630209
• OCLC番号: 43417602; https://www.worldcat.org/oclc/43417602
• 整理区分コード: 281