Error analysis and calibration uncertainty of capacitance standards at NIST [microform] / Y. May Chang

• 資料種別: 図書
• タイトル: Error analysis and calibration uncertainty of capacitance standards at NIST [microform] / Y. May Chang
• シリーズタイトル: NIST special publication ; 250-52; NIST special publication. NIST measurement services
• 著者標目: Chang, Y. May; National Institute of Standards and Technology (U.S.)
• 出版年（W3CDTF）: 2000
• 数量: microfiche
• 大きさ: 11 × 15 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 件名標目: Capacitance meters -- Calibration; Electric capacity -- Standards -- United States
• 一般注記: Shipping list no.: 2000-0465-M; "January 2000."; Physical description for original version: 1 v. (various pagings) : 28 cm
• 書誌注記: Includes bibliographical references (p. 38-39)
• 原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD ; [Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology : For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 2000]; SUPTDOC番号: C 13.10: 250-52; GPO管理番号: 0247 (MF)
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: YCA-C 13.10:250-52
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000006631777; http://id.ndl.go.jp/bib/000006631777
• OCLC番号: 43843392; https://www.worldcat.org/oclc/43843392
• 整理区分コード: 281