Electrical impact of SiC structural crystal defects on high electric field devices [microform] / Philip G. Neudeck ([NASA technical memorandum] ; NASA/TM-1999-209647)

Electrical impact of SiC structural crystal defects on high electric field devices [microform] / Philip G. Neudeck

([NASA technical memorandum] ; NASA/TM-1999-209647)

国立国会図書館請求記号: YCA-NAS 1.15:209647
国立国会図書館書誌ID: 000006633524

資料種別: 図書

著者: Neudeck, Philip Gほか

出版者: -

出版年: 1999

資料形態: マイクロ

ページ数・大きさ等: microfiche ; 11 × 15 cm

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Shipping list no.: 2000-0603-MPhysical description for original version: 1 v

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書誌情報

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マイクロ

資料種別: 図書
タイトル: Electrical impact of SiC structural crystal defects on high electric field devices [microform] / Philip G. Neudeck
シリーズタイトル: [NASA technical memorandum] ; NASA/TM-1999-209647
タイトル標目: NASA technical memorandum ; 209647
著者標目: Neudeck, Philip G
NASA Glenn Research Center
出版年（W3CDTF）: 1999
数量: microfiche
大きさ: 11 × 15 cm
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
資料種別（注記）: [microform]
件名標目: Crystal defects
Silicon
Electric fields
Electrical properties
Switching
一般注記: Shipping list no.: 2000-0603-M
Physical description for original version: 1 v
原資料等に関する注記: 原資料の出版事項: [Cleveland, Ohio] ; [Springfield, Va. : National Aeronautics and Space Administration, Glenn Research Center : National Technical Information Service, distributor, 1999]
SUPTDOC番号: NAS 1.15: 209647
GPO管理番号: 0830-D (MF)
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: YCA-NAS 1.15:209647
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000006633524
http://id.ndl.go.jp/bib/000006633524
OCLC番号: 44555018
https://www.worldcat.org/oclc/44555018
整理区分コード: 281