図書

多層積層構造超LSI形成時の残留応力解析と超音波を用いた信頼性評価技術の開発

図書を表すアイコン

多層積層構造超LSI形成時の残留応力解析と超音波を用いた信頼性評価技術の開発

国立国会図書館請求記号
Y151-H02555022
国立国会図書館書誌ID
000006978715
資料種別
図書
著者
小林, 英男, 東京工業大学
出版者
-
出版年
1990-1992
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
タイトルよみ
タソウ セキソウ コウゾウ チョウ LSI ケイセイジ ノ ザンリュウ オウリョク カイセキ ト チョウオンパ オ モチイタ シンライセイ ヒョウカ ギジュツ ノ カイハツ
著者・編者
小林, 英男, 東京工業大学
著者標目
小林, 英男, 1942- コバヤシ, ヒデオ, 1942- ( 00033010 )典拠
出版年月日等
1990-1992
出版年(W3CDTF)
1990
数量
その他のタイトル
研究種目 試験研究(B)
件名標目
LSI LSI
多層積層 タソウセキソウ
残留応力 ザンリユウオウリヨク
薄膜 ハクマク
超音波 チヨウオンパ
X線 Xセン
超音波顕微鏡 チヨウオンパケンビキヨウ