図書

光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析

図書を表すアイコン

光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析

国立国会図書館請求記号
Y151-H05453057
国立国会図書館書誌ID
000006991009
資料種別
図書
著者
渡辺, 巌, 大阪大学
出版者
-
出版年
1993-1994
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
タイトルよみ
コウデンシシュウリツ XAFS ホウ ニ ヨル ヨウエキ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ
著者・編者
渡辺, 巌, 大阪大学
著者標目
渡辺, 巌 ワタナベ, イワオ
出版年月日等
1993-1994
出版年(W3CDTF)
1993
数量
その他のタイトル
研究種目 一般研究(B)
件名標目
溶液表面 ヨウエキヒヨウメン
溶媒和構造 ヨウバイワコウゾウ
EXAFS EXAFS
X線吸収微細構造解析法 Xセンキユウシユウビサイコウゾウカイセキホウ
臭化物イオン シユウカブツイオン
全反射X線吸収分光法 ゼンハンシヤXセンキユウシユウブンコウホウ
界面活性 カイメンカツセイ
光電子収率XAFS コウデンシシユウリツXAFS