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試料裏面からの表面状態分析法の研究

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試料裏面からの表面状態分析法の研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H07455333
国立国会図書館書誌ID
000007003292
資料種別
図書
著者
河合, 潤, 京都大学
出版者
-
出版年
1995-1996
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
シリョウ リメン カラ ノ ヒョウメン ジョウタイ ブンセキホウ ノ ケンキュウ
著者・編者
河合, 潤, 京都大学
著者標目
河合, 潤, 1957- カワイ, ジュン, 1957- ( 00802295 )典拠
出版年月日等
1995-1996
出版年(W3CDTF)
1995
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)
件名標目
表面分析 ヒヨウメンブンセキ
非破壊分析 ヒハカイブンセキ