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図書

耐疲労信頼性設計における最適試験片数の決定法

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耐疲労信頼性設計における最適試験片数の決定法

国立国会図書館請求記号
Y151-S62550078
国立国会図書館書誌ID
000007031365
資料種別
図書
著者
石川, 浩, 香川大学
出版者
-
出版年
1987-1988
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
タイヒロウ シンライセイ セッケイ ニ オケル サイテキ シケンヘンスウ ノ ケッテイホウ
著者・編者
石川, 浩, 香川大学
著者標目
石川, 浩 イシカワ, ヒロシ
出版年月日等
1987-1988
出版年(W3CDTF)
1987
数量
その他のタイトル
研究種目 一般研究(C)
件名標目
耐疲労信頼性設計 タイヒロウシンライセイセツケイ
疲労寿命分布 ヒロウジユミヨウブンプ
信頼度 シンライド
統計的疲労破壊確率 トウケイテキヒロウハカイカクリツ
最適試験片数 サイテキシケンヘンスウ
対数正規分布 タイスウセイキブンプ
ワイブル分布 ワイブルブンプ
母数推定量 ボスウスイテイリヨウ