走査型電子顕微鏡(SEM)による2次元表面粗さ計測とその応用に関する研究

• 資料種別: 図書
• タイトル: 走査型電子顕微鏡(SEM)による2次元表面粗さ計測とその応用に関する研究
• タイトルよみ: ソウサガタ デンシ ケンビキョウ(SEM) ニ ヨル 2 ジゲン ヒョウメン アラサ ケイソク ト ソノ オウヨウ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 佐藤壽芳, 東京大学
• 著者標目: 佐藤, , 壽芳 サトウ, ヒサヨシ
• 出版年月日等: 1981-1982
• 出版年（W3CDTF）: 1981; 1982
• 数量: 冊
• その他のタイトル: 研究種目 一般研究(B)
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 56460074
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-S56460074
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007051750; http://id.ndl.go.jp/bib/000007051750
• 整理区分コード: 214