多層構造VLSIのテステイング容易化設計手法の基礎的研究

• 資料種別: 図書
• タイトル: 多層構造VLSIのテステイング容易化設計手法の基礎的研究
• タイトルよみ: タソウ コウゾウ VLSI ノ テステイング ヨウイカ セッケイ シュホウ ノ キソテキ ケンキュウ
• 著者・編者: 藤岡, 弘, 大阪大学
• 著者標目: 著者 ： 藤岡, 弘, 1941- フジオカ, ヒロシ, 1941- ( 00016011 )典拠
• 出版年月日等: 1998-2000
• 出版年（W3CDTF）: 1998
• 数量: 冊
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(B)
• 件名標目: VLSI VLSI; テステイング容易化設計 テステイングヨウイカセツケイ; 電流テストポイント デンリユウテストポイント; 電圧テストポイント デンアツテストポイント; パーテイクル パーテイクル
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 10450137
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H10450137
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007071438; http://id.ndl.go.jp/bib/000007071438
• 整理区分コード: 214