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その場透過電子顕微鏡観察による強誘電体薄膜の劣化ダイナミクスに関する研究

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その場透過電子顕微鏡観察による強誘電体薄膜の劣化ダイナミクスに関する研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H12450010
国立国会図書館書誌ID
000007092120
資料種別
図書
著者
酒井, 朗, 名古屋大学
出版者
-
出版年
2000-2002
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ソノ バ トウカ デンシ ケンビキョウ カンサツ ニ ヨル キョウ ユウデンタイ ハクマク ノ レッカ ダイナミクス ニ カンスル ケンキュウ
著者・編者
酒井, 朗, 名古屋大学
著者標目
酒井, 朗 サカイ, アキラ
出版年月日等
2000-2002
出版年(W3CDTF)
2000
数量
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)
件名標目
透過電子顕微鏡 トウカデンシケンビキヨウ
その場観察 ソノバカンサツ
強誘電体 キヨウユウデンタイ
PZT薄膜 PZTハクマク
電圧ストレス デンアツストレス
劣化 レツカ
試料ホルダ- シリヨウホルダ-
電極 デンキヨク