RCJ信頼性シンポジウム発表論文集. 第12回(2002)

• 資料種別: 図書
• タイトル: RCJ信頼性シンポジウム発表論文集
• タイトルよみ: RCJ シンライセイ シンポジウム ハッピョウ ロンブンシュウ
• 巻次・部編番号: 第12回(2002)
• 著者標目: 日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
• 出版事項: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
• 出版年月日等: 2002.11
• 出版年（W3CDTF）: 2002
• 数量: 334p
• 大きさ: 30cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電子部品--論文集 デンシブヒン ロンブンシュウ ( 00962742 )典拠; 半導体--論文集 ハンドウタイ ロンブンシュウ ( 00839632 )典拠
• NDC9版: 549.04 : 電子工学
• NDLC: ND354; ND371
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 会期・会場: 2001年11月5日-8日 大田区産業プラザ
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND354-H21
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007406746; http://id.ndl.go.jp/bib/000007406746
• 全国書誌番号: 20632025
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 111

• 内容細目: 招待講演産業における安全とリスクアセスメント / 向殿政男 著電子SI技術のASETにおける開発状況 / 石野正和, 盆子原学 著...

目次

目次

第12回RCJ信頼性シンポジウム招待講演、国際技術交流会

招待講演

2001年11月7日（木）

(10:05〜12:00) 産業における安全とリスクアセスメント