Model-based control of atomic force microscopes

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Model-based control of atomic force microscopes
• 著者・編者: Georg Schitter.
• 著者標目: Schitter, Georg.
• 出版事項: Zurich : Eidgenossische Technische Hochschule Zurich
• 出版年月日等: 2004.
• 数量: 2 microfiches (129 fr.) : negative, ill. ; 11 x 15 cm.
• 授与機関名: Eidgenossische Technische Hochschule Zurich
• 授与年月日: 2004.
• 授与年月日（W3CDTF）: 2004
• 学位論文注記: 博士論文; Thesis (doctoral) --Eidgenossische Technische Hochschule Zurich, 2004.
• 出版地（国名コード）: CH
• 本文の言語コード: eng
• 資料種別（注記）: [microform]
• 書誌注記: Includes bibliographies.; Summary in English and German.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: LS-DISE-15449
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007501978; http://id.ndl.go.jp/bib/000007501978
• 整理区分コード: 216