Annual reliability and maintainability symposium : 2004 proceedings : the international symposium on product quality and integrity : Los Angeles, California, USA 26-29 January 2004.

国立国会図書館請求記号: M17-04-3498
国立国会図書館書誌ID: 000007543115

資料種別: 図書

著者: Reliability and Maintainability Symposium (2004 : Los Angeles, Calif.)

出版者: Institute of Electrical and Electronics Engineers

出版年: c2004.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xviii, 679 p. : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers."SAE et al."Related URL: http: //ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=9034....

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0780382153 (softbound)
0780382161 (CD ROM)
ISSN: 0149-144X
タイトル: Annual reliability and maintainability symposium : 2004 proceedings : the international symposium on product quality and integrity : Los Angeles, California, USA 26-29 January 2004.
著者標目: Reliability and Maintainability Symposium (2004 : Los Angeles, Calif.)
出版事項: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月日等: c2004.
出版年（W3CDTF）: 2004
数量: xviii, 679 p. : ill. ; 28 cm.
その他のタイトル: Jan 2004, Los Angeles, CA.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Reliability (Engineering) -- Congresses.
Maintainability (Engineering) -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
"SAE et al."
Related URL: http: //ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=9034.
IEEE cat no 04CH37506 (Softbound) , 04CH37506C (CD ROM) .
書誌注記: Includes bibliographical references and indexes.
別の媒体に関する注記: Also issued online with additional title: Reliability and Maintainability, 2004 Annual Symposium-RAMS.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-3498
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000007543115
http://id.ndl.go.jp/bib/000007543115
LC control number: 78132873
https://lccn.loc.gov/78132873
RLIN番号: NYPGR54781351-B
整理区分コード: 215