ICMTS 2004 : proceedings of the 2004 international conference on microelectronic test structures : March 22-25, 2004 : Awaji Yumebutai International Conference Center, Japan. : 17th ICMTS : Mar 2004, Higashiura-cho, Japan.

ICMTS 2004 : proceedings of the 2004 international conference on microelectronic test structures : March 22-25, 2004 : Awaji Yumebutai International Conference Center, Japan. : 17th ICMTS : Mar 2004, Higashiura-cho, Japan.

国立国会図書館請求記号: M17-04-3497
国立国会図書館書誌ID: 000007543606

資料種別: 図書

著者: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (2004 : Awaji Yumebutai, Japan)

出版者: IEEE

出版年: c2004.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: xii, 313 p. : ill. ; 30 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Papers.IEEE cat no 04CH37516.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0780382625
タイトル: ICMTS 2004 : proceedings of the 2004 international conference on microelectronic test structures : March 22-25, 2004 : Awaji Yumebutai International Conference Center, Japan. : 17th ICMTS : Mar 2004, Higashiura-cho, Japan.
著者標目: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (2004 : Awaji Yumebutai, Japan)
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2004.
出版年（W3CDTF）: 2004
数量: xii, 313 p. : ill. ; 30 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Integrated circuits -- Testing. -- Congresses.
Semiconductors -- Testing -- Congresses.
Electronic apparatus and appliances -- Testing. -- Congresses.
NDLC: M17
一般注記: Papers.
IEEE cat no 04CH37516.
書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
別の媒体に関する注記: Also available via the World Wide Web.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-3497
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000007543606
http://id.ndl.go.jp/bib/000007543606
LC control number: 2003114789
https://lccn.loc.gov/2003114789
RLIN番号: MOHG55768838-B
整理区分コード: 215