Expo issue : microscopy and microanalysis 2004 : 62nd annual meeting of the Microscopy Society of America : 38th annual meeting of the Microbeam Analysis Society : 37th annual meeting of the International Metallographic Society : Savannah, Georgia, USA : August 1-5, 2004. : symposia for microscopy and microanalysis (M&M) 2004 : Aug 2004, Savannah, GA. (Microscopy and Microanalysis ; 10 Suppl 1)

Expo issue : microscopy and microanalysis 2004 : 62nd annual meeting of the Microscopy Society of America : 38th annual meeting of the Microbeam Analysis Society : 37th annual meeting of the International Metallographic Society : Savannah, Georgia, USA : August 1-5, 2004. : symposia for microscopy and microanalysis (M&M) 2004 : Aug 2004, Savannah, GA.

(Microscopy and Microanalysis ; 10 Suppl 1)

国立国会図書館請求記号: M17-04-3568
国立国会図書館書誌ID: 000007560308

資料種別: 図書

著者: -

出版者: Cambridge University Press

出版年: 2004.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 158 p. : ill. (some col.) ; 28 cm.

NDC: -

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISSN（シリーズ）: 1431-9276
タイトル: Expo issue : microscopy and microanalysis 2004 : 62nd annual meeting of the Microscopy Society of America : 38th annual meeting of the Microbeam Analysis Society : 37th annual meeting of the International Metallographic Society : Savannah, Georgia, USA : August 1-5, 2004. : symposia for microscopy and microanalysis (M&M) 2004 : Aug 2004, Savannah, GA.
シリーズタイトル: Microscopy and Microanalysis ; 10 Suppl 1
出版事項: [West Nyack] : Cambridge University Press
出版年月日等: 2004.
出版年（W3CDTF）: 2004
数量: 158 p. : ill. (some col.) ; 28 cm.
並列タイトル等: Microscopy and microanalysis : volume 10, supplement 1, 2004 : pages 1-160
出版地（国名コード）: US
NDLC: M17
一般注記: Abstracts and program.
Title on cover.
書誌注記: Includes bibliographical references and indexes.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-04-3568
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000007560308
http://id.ndl.go.jp/bib/000007560308
整理区分コード: 215