シンクロトロン放射光による遮熱コーティング膜の残留応力分布解析と強度評価

• 資料種別: 図書
• タイトル: シンクロトロン放射光による遮熱コーティング膜の残留応力分布解析と強度評価
• タイトルよみ: シンクロトロン ホウシャコウ ニ ヨル シャネツ コーティングマク ノ ザンリュウ オウリョク ブンプ カイセキ ト キョウド ヒョウカ
• 著者・編者: 鈴木賢治, 新潟大学 [著]
• 著者標目: 鈴木, 賢治, 1958- スズキ, ケンジ, 1958- ( 00533832 )典拠; 新潟大学 ニイガタ ダイガク ( 00262895 )典拠
• 出版事項: [鈴木賢治]
• 出版年月日等: 2001-2003; 2004.5
• 出版年（W3CDTF）: 2001; 2003
• 数量: 72p
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(C)
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• 件名標目: Thermal barrier coating / residual stress / Synchrotron X-ray Thermal barrier coating / residual stress / Synchrotron X-ray
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 13650078
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H13650078
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007597663; http://id.ndl.go.jp/bib/000007597663
• 整理区分コード: 214