MTDT 2004 : records of the 2004 international workshop on memory technology, design and testing : 9-10 August 2004 : San Jose, California, USA. : Aug 2004, San Jose, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769521932
• ISSN: 1087-4852
• タイトル: MTDT 2004 : records of the 2004 international workshop on memory technology, design and testing : 9-10 August 2004 : San Jose, California, USA. : Aug 2004, San Jose, CA.
• 著者標目: Rajsuman, Rochit.; Wit, Tom.; IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (12th : 2004 : San Jose, California)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2004.
• 出版年（W3CDTF）: 2004
• 数量: vii, 121 p. : ill. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: Records of the 2004 IEEE international workshop on memory technology, design and testing
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Semiconductor storage devices -- Testing. -- Congresses.; Random access memory -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.; IEEE cat no P2193.
• 書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-05-431
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007624874; http://id.ndl.go.jp/bib/000007624874
• RLIN番号: MOHG56433367-B
• 整理区分コード: 215