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接触面顕微鏡による微細接触部の測定および最適密封条件の提言

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接触面顕微鏡による微細接触部の測定および最適密封条件の提言

国立国会図書館請求記号
Y151-H14550133
国立国会図書館書誌ID
000007891640
資料種別
図書
著者
松崎良男, 石川工業高等専門学校 [著]
出版者
[松崎良男]
出版年
2002-2004
資料形態
ページ数・大きさ等
1冊
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
セッショクメン ケンビキョウ ニ ヨル ビサイ セッショクブ ノ ソクテイ オヨビ サイテキ ミップウ ジョウケン ノ テイゲン
著者・編者
松崎良男, 石川工業高等専門学校 [著]
著者標目
松崎, 良男 マツザキ, ヨシオ
石川工業高等専門学校 イシカワ コウギョウ コウトウ センモン ガッコウ
出版事項
出版年月日等
2002-2004
2005.3
出版年(W3CDTF)
2002
2004
数量
1冊
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(C)