Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005 : San Diego, California, USA. : Aug 2005, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0819459267
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005 : San Diego, California, USA. : Aug 2005, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 5921
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 5921.
• 著者標目: Assoufid, Lahsen.; Takacs, Peter Z.; Taylor, J. S. (John S.)
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2005.
• 出版年（W3CDTF）: 2005
• 数量: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Optical measurements -- Congresses.; Optical instruments -- Design and construction -- Congresses.; Measuring instruments -- Design and construction -- Congresses.; Laser interferometers -- Congresses.; Mensuration -- Congresses.
• LCC: QC367
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-06-225
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008032793; http://id.ndl.go.jp/bib/000008032793
• RLIN番号: CTYA7129870-B
• 整理区分コード: 215