RCJ信頼性シンポジウム発表論文集. 第15回(2005)

• 資料種別: 図書
• ISSN: 1349-6379
• タイトル: RCJ信頼性シンポジウム発表論文集
• タイトルよみ: RCJ シンライセイ シンポジウム ハッピョウ ロンブンシュウ
• 巻次・部編番号: 第15回(2005)
• 著者標目: 日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
• 出版事項: 東京 : 日本電子部品信頼性センター
• 出版年月日等: 2005.11
• 出版年（W3CDTF）: 2005
• 数量: 204, 81p
• 大きさ: 30cm
• 付属資料: 1冊
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 電子部品--論文集 デンシブヒン ロンブンシュウ ( 00962742 )典拠; 半導体--論文集 ハンドウタイ ロンブンシュウ ( 00839632 )典拠
• NDC9版: 549.04 : 電子工学
• NDLC: ND354; ND371
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 会期・会場: 2005年11月10日-11日 大田区産業プラザ
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND354-H48
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008224083; http://id.ndl.go.jp/bib/000008224083
• 全国書誌番号: 21055368
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 112

• 内容細目: 第15回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム電気製品のリユースに関する国際規格IEC62309(2004) / 夏目武 著信頼性から見た鉛フリー化と課題 / 伊藤貞則 著...

目次

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開催日：2005年11月10日(木)　10:00〜17:15

会場：4階コンベンションホール(A会場)

セッション名：鉛フリーはんだ接続技術信頼性

(10:05〜11:00)　招待　「電気製品のリユースに関する国際規格IEC62309(2004):

Dependability of products containing reused parts-Requirements for functionality and testとJIS化」/ 1