24th IEEE VLSI test symposium : proceedings : April 30-May 4, 2006 : Berkeley, California. : VTS 2006 : TTTC test technology educational program (TTEP) 2006 : Apr 2006, Berkeley, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769525148; 9780769525143 (ISBN-13)
• ISSN（シリーズ）: 1093-0167
• タイトル: 24th IEEE VLSI test symposium : proceedings : April 30-May 4, 2006 : Berkeley, California. : VTS 2006 : TTTC test technology educational program (TTEP) 2006 : Apr 2006, Berkeley, CA.
• シリーズタイトル: IEEE VLSI Test Symposium
• 著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (24th : 2006 : Berkeley, California)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2006.
• 出版年（W3CDTF）: 2006
• 数量: xxix, 428 p. : ill. ; 28 cm.
• 付属資料: With an addendum: Test Technology Technical Council 2006 planner.
• 並列タイトル等: IEEE test symposium : 2006 : VLSI : without testing it's a gamble; VTS06
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing. -- Congresses.
• LCC: TK7874
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers and abstracts.; "Welcome to VTS 2006, the twenty-fourth in a series of annual symposia (...) " -- foreword.; "Full-day tutorials and workshops are also held in conjunction with VTS 2006." -- foreword.; IEEE cat no P2514.
• 書誌注記: Includes bibliographic references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-06-2444
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008306567; http://id.ndl.go.jp/bib/000008306567
• LC control number: 2006923027; https://lccn.loc.gov/2006923027
• RLIN番号: MOHG68963487-B
• 整理区分コード: 215