Eleventh IEEE European test symposium : ETS 2006 : proceedings : 21-24 May 2006 : Southampton, United Kingdom. : May 2006, Southampton, UK.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769525660; 9780769525662 (ISBN-13)
• ISSN: 1530-1877
• タイトル: Eleventh IEEE European test symposium : ETS 2006 : proceedings : 21-24 May 2006 : Southampton, United Kingdom. : May 2006, Southampton, UK.
• 著者標目: IEEE European Test Symposium (11th : 2006 : Southampton, United Kingdom)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2006.
• 出版年（W3CDTF）: 2006
• 数量: xv, 256 p. : ill., ports. ; 28 cm.
• 並列タイトル等: 11th IEEE European test symposium : ETS 2006 : proceedings : 21-24 May 2006 : Southampton, United Kingdom; ETS'06 : 11th IEEE European test symposium : proceedings : May 21-24, 2006 : Hilton Hotel, Southampton, United Kingdom; Proceedings of the 11th IEEE European test symposium 2006
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits -- Testing. -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Abstracts and selected papers.; IEEE cat no P2566.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-06-2394
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008306626; http://id.ndl.go.jp/bib/000008306626
• RLIN番号: MOHG69172693-B
• 整理区分コード: 215