11th IEEE international on-line testing symposium : IOLTS 2005 : Saint Raphael, French Riviera, France : 6-8 July 2005. : Jul 2005, Saint Raphael, France.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0769524060
• ISSN: 1530-1591
• タイトル: 11th IEEE international on-line testing symposium : IOLTS 2005 : Saint Raphael, French Riviera, France : 6-8 July 2005. : Jul 2005, Saint Raphael, France.
• 著者標目: Metra, C. (Cecilia); IEEE International On-Line Testing Symposium (11th : 2005 : Saint Raphaël, Var, France)
• 出版事項: Los Alamitos : IEEE Computer Society
• 出版年月日等: c2005.
• 出版年（W3CDTF）: 2005
• 数量: xv, 326 p. : ill. ; 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Electronic circuits -- Testing. -- Congresses.; Online data processing -- Congresses.; Electronic circuit design. -- Congresses.; Error-correcting codes (Information theory) -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Selected papers and abstracts.; IEEE cat no P2406.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-06-2637
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000008325884; http://id.ndl.go.jp/bib/000008325884
• RLIN番号: MOHG62174392-B
• 整理区分コード: 215