図書

レーザーAEシステムを用いた微細試料の信頼性評価

図書を表すアイコン

レーザーAEシステムを用いた微細試料の信頼性評価

国立国会図書館請求記号
Y151-H15360364
国立国会図書館書誌ID
000008338035
資料種別
図書
著者
榎学, 東京大学 [著]
出版者
[榎学]
出版年
2003-2005
資料形態
ページ数・大きさ等
85p
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
タイトルよみ
レーザー AE システム オ モチイタ ビサイ シリョウ ノ シンライセイ ヒョウカ
著者・編者
榎学, 東京大学 [著]
著者標目
著者 : 榎, 学 エノキ, マナブ ( 01066880 )典拠
東京大学 トウキョウ ダイガク ( 00305733 )典拠
出版事項
出版年月日等
2003-2005
2006.3
出版年(W3CDTF)
2003
2005
数量
85p
その他のタイトル
研究種目 基盤研究(B)