Optical measurement systems for industrial inspection 5 : 18-22 June 2007 : Munich, Germany. : Munich conference : Jun 2007, Munich, Germany.

• 資料種別: 図書
• ISBN（セット）: 9780819467584 (set)
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Optical measurement systems for industrial inspection 5 : 18-22 June 2007 : Munich, Germany. : Munich conference : Jun 2007, Munich, Germany.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 6616
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 6616.
• 著者標目: European Optical Society (EOS); Osten, Wolfgang.; Gorecki, Christophe.; Novak, Erik.; Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik (WLT)
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2007.
• 出版年（W3CDTF）: 2007
• 数量: 2 parts : ill. ; 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Quality control -- Optical methods -- Congresses.; Optical instruments -- Industrial applications -- Congresses.; Optical detectors -- Industrial applications -- Congresses.
• LCC: QC367
• DDC: 670.42/5
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-07-2606
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009117822; http://id.ndl.go.jp/bib/000009117822
• OCLC番号: 162506055; https://www.worldcat.org/oclc/162506055
• 整理区分コード: 215