Stress-induced phenomena in metallization : ninth international workshop on stress-induced phenomena in metallization : Kyoto, Japan 4-6 April 2007. : Apr 2007, Kyoto, Japan.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780735404595
• ISSN（シリーズ）: 0094-243X
• タイトル: Stress-induced phenomena in metallization : ninth international workshop on stress-induced phenomena in metallization : Kyoto, Japan 4-6 April 2007. : Apr 2007, Kyoto, Japan.
• シリーズタイトル: AIP Conference Proceedings ; 945
• タイトル標目: AIP conference proceedings ; no. 945.
• 著者標目: Ogawa, Shinʾichi.; Ho, P. S.; Zschech, Ehrenfried.; International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization (9th : 2007 : Kyoto, Japan)
• 出版事項: Melville : American Institute of Physics
• 出版年月日等: 2007.
• 出版年（W3CDTF）: 2007
• 数量: vii, 204 p. : ill. ; 25 cm.
• 並列タイトル等: Stress-induced phenomena in metallization : 9th international workshop on stress-induced phenomena in metallization : Kyoto, Japan 4-6 April 2007
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Interconnects (Integrated circuit technology) -- Defects -- Congresses.; Metal-metal bonds -- Congresses.; Strength of materials -- Congresses.; Nanostructured materials -- Congresses.; Semiconductors -- Congresses.; Copper -- Electric properties -- Congresses.
• NDLC: M17
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-08-188
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000009203784; http://id.ndl.go.jp/bib/000009203784
• LC control number: 2007937338; https://lccn.loc.gov/2007937338
• OCLC番号: 182441582; https://www.worldcat.org/oclc/182441582
• 整理区分コード: 215